DFT可測(cè)試性設(shè)計(jì)工程實(shí)踐

DFT可測(cè)試性設(shè)計(jì)工程實(shí)踐(陳老師)課程介紹：

● 課程背景 
◇測(cè)試是產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段,也是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié),如何將測(cè)試工作開展的更全面、更仔細(xì)、更專業(yè)完善也是眾多電子通信企業(yè)所追求的目標(biāo)。
◇建立可測(cè)試性設(shè)計(jì)是開發(fā)軟硬件系統(tǒng)的關(guān)鍵，尤其是那些對(duì)工作可靠性要求高的系統(tǒng)。
◇若沒有可測(cè)試性設(shè)計(jì)，在產(chǎn)品正式使用之前就很難發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷，而且工作中出現(xiàn)的故障也很難檢測(cè)和診斷。
◇采用可測(cè)試性設(shè)計(jì)可以增加系統(tǒng)的可測(cè)試性，提高產(chǎn)品質(zhì)量，并減少產(chǎn)品投放市場(chǎng)的時(shí)間及測(cè)試費(fèi)用。

● 課程收益
學(xué)完本課程后，學(xué)員可獲得：
▲深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本思想和基本原理
▲熟悉可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本業(yè)務(wù)流程
▲全面掌握可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的設(shè)計(jì)方法
▲有效構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的體系平臺(tái)和貨架技術(shù)

● 課程大綱
1、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)概述
 ◇ 產(chǎn)品生命周期V模型
 ◇ 電子信息產(chǎn)品測(cè)試所面臨的問題
 ◇ 什么是可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)
※思考：如何深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)
 ◇ 可測(cè)性的物理特征表述
 ◇ 可測(cè)性的測(cè)度形式
※※討論：以下各功能模塊的可測(cè)性測(cè)度是怎樣的？
 ◇ 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的效益分析
 ◇ 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本要素
 ◇ IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)
 ◇ 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本過程
 ◇ 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)中常用術(shù)語及縮略語
2、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
 ◇ 整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源
 ◇ 整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
 ◇ 單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源
 ◇ 單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
 ◇ 單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源
 ◇ 單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
 ◇ 單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源
 ◇ 單板生產(chǎn)測(cè)試的抽象模型
※思考：?jiǎn)伟迳�產(chǎn)測(cè)試的目的是什么？
 ◇ 單板生產(chǎn)測(cè)試路線
 ◇ 單板生產(chǎn)工藝測(cè)試基本原理
 ◇ 單板生產(chǎn)功能測(cè)試基本原理
 ◇ 單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
※※討論：本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測(cè)試方案和路線是怎樣的？
 ◇ JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的應(yīng)用
 ◇ JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
 ◇ 單板維修可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
※※思考：本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段？
3、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本方法
 ◇ 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制物理通道
 ◇ 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部測(cè)試命令集
 ◇ 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制管理
 ◇ 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試信息存儲(chǔ)與輸出
 ◇ 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部?jī)x器輸入輸出接口
 ◇ 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
 ◇ 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——差錯(cuò)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
 ◇ 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——容限/極限數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
 ◇ 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——故障數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
 ◇ 能控性設(shè)計(jì)——測(cè)試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動(dòng)
 ◇ 能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控
 ◇ 能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)業(yè)務(wù)狀態(tài)監(jiān)控
 ◇ 能觀性設(shè)計(jì)——單板運(yùn)行狀態(tài)監(jiān)控
 ◇ 能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控
 ◇ 能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控
         BIST設(shè)計(jì)——初始化自檢
▲▲案例解讀
4、單板可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)必須考慮的要素
 ◇ 機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
 ◇ 自檢和自環(huán)設(shè)計(jì)
 ◇ 工裝夾具設(shè)計(jì)
 ◇ 測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)
 ◇ 芯片控制引腳設(shè)計(jì)
 ◇ 邊界掃描測(cè)試設(shè)計(jì)
 ◇ EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計(jì)
 ◇ 如何設(shè)計(jì)以減少測(cè)試點(diǎn)
5、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施
 ◇ 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施步驟
 ◇ 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施障礙
※※交流與探討：如何構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)體系和貨架技術(shù)

● 講師簡(jiǎn)介
陳老師：測(cè)試專家，工學(xué)碩士
專業(yè)背景：長(zhǎng)期從事通訊產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試軟、硬件項(xiàng)目的開發(fā)與管理工作，先后擔(dān)任過工程師、高級(jí)工程師、測(cè)試項(xiàng)目經(jīng)理、測(cè)試部經(jīng)理，產(chǎn)品工程部總經(jīng)理等職，積累了豐富的產(chǎn)品設(shè)計(jì)開發(fā)和管理經(jīng)驗(yàn)。10多年的通信設(shè)備制造企業(yè)工作經(jīng)歷，參與了多媒體產(chǎn)品、固網(wǎng)產(chǎn)品等產(chǎn)品的系統(tǒng)測(cè)試項(xiàng)目開發(fā)及管理工作，具有非常豐富的軟硬件開發(fā)流程和項(xiàng)目管理專業(yè)知識(shí)及實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。
咨詢背景：主導(dǎo)實(shí)施了珠海共創(chuàng)、協(xié)同集團(tuán)、長(zhǎng)沙威盛、CCPU、同洲電子、深圳通創(chuàng)、福州聯(lián)迪、福建三元達(dá)、HP-東軟等電子通訊類企業(yè)的測(cè)試體系建設(shè)和測(cè)試工程實(shí)施。
培訓(xùn)過的客戶：北方奔馳、大唐移動(dòng)、廣電運(yùn)通、中國(guó)惠普、三星集團(tuán)、LG、美的集團(tuán)、神州數(shù)碼、上海貝爾、津城集團(tuán)、用友軟件、高德軟件、百晶生物技術(shù)、怡禾生物、北京第一機(jī)床廠、奇瑞汽車、握奇數(shù)據(jù)、航天恒星、同方威視、瑪氏食品、太子奶生物、SMC（北京）制造、中國(guó)科學(xué)院光電研究院、北京奧特美克科技、華東閥門、澤通機(jī)械、北京天一集成科技、湖南九天科技、合肥皖儀科技、北京歐地安科技、北京思能達(dá)電力技術(shù)、英科新創(chuàng)、北京雙杰電氣、西克麥哈克儀器、天變航博電氣、天津南開和成科技、博益（天津）氣動(dòng)技術(shù)、北京瑞麟百嘉科技、南京伊貝加科技、哈爾濱東安發(fā)動(dòng)機(jī)集團(tuán)、上海方心科技研究所等等。

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