電子產品可靠性與白盒測試高級研修班

電子產品可靠性與白盒測試高級研修班(武曄卿)課程介紹：

課程背景
    白盒測試的核心是波形診斷、器件參數分析、器件失效機理激發等內容，通過對具體深入細節的測試測量，與預期標準參數、波形對比，發現其中的隱患。本課程著重從被測對象的隱患點、外部應力、過渡過程、器件失效機理、工藝隱患等幾個方面展開測試用例設計，既講解了測試用例的思考分析方法，又深入展開了細節的具體問題點分析。
    通過本課程，可以快速積累測試經驗、掌握測試項目的選擇和測試用例的設計方法，為企業產品通過測試把關的方式實現產品可靠性短期內大幅度的提升保駕護航。

課程綱要
講課內容屆時根據實際情況會有所調整。

1、 測試基礎
1.研發樣機測試與中試樣機測試的區別
2.原理驗證和一致性驗證的判據區別
3.測試的工具方法類型（模擬測試、仿真、工程計算、規范審查）
4.基于單一故障的接口故障分析及測試模擬方法    
5.測試覆蓋率與MECE方法

2、波形診斷
1.電路常見異常波形的種類
2.回勾波形的成因與應對措施
3.過沖波形的成因與應對措施
4.振蕩波形的成因與應對措施
5.平臺波形的成因與應對措施
6.塌陷波形的成因與應對措施
7.鼓包波形的成因與應對措施

3、參數計算與審查
1.WCCA參數分析      2.容差計算
3.蒙特卡洛分析方法  4.降額審查
5.熱測試與計算
6.常用各類電路里器件參數計算審查（電容、電感、磁珠、電阻、開關管等）

4、一致性測試及測試數據分析
1.批次數據分析     2.正態分布的工程意義
3.各種異化正態分布曲線的含義與機理

5、單一故障分析與模擬測試
1.設計調查表
2.用戶現場環境條件（環境對產品零部件的失效影響及模擬測試方法）
3.人機接口條件（操作者認知與習慣的潛在隱患防護）
4.關聯設備的相互影響（能量與信號輸入輸出的相互潛在影響及模擬測試方法）

6、基于失效機理的應力測試
1.常用器件、部件零件的失效機理和失效誘發應力
2.針對失效機理的模擬測試用例設計

7、軟件測試
1.路徑覆蓋的測試用例設計方法
2.數據覆蓋的測試用例設計方法
3.黑盒測試與白盒測試的測試用例設計方法

8、器件質量控制測試
1.光學檢測    2.參數測試與統計分析
3.IV曲線測試

9、標準符合性測試
1.通用標準測試項目
2.安規（通用安規要求、安規測試判據、氣、液、電混合布局安規測試用例）
3.電磁兼容
4.產品內部不同類型模塊之間的相互影響檢查與測試

10、基于失效機理的應力測試
1.常用器件、部件零件的失效機理和失效誘發應力
2.針對失效機理的模擬測試用例設計

11、應力變化率測試
1.環境應力變化率的影響
2.負載應力變化率的影響
3.能量及信號輸入變化率的影響
4.過渡過程應力對設備故障的影響
12、組合應力測試
1.現場多應力組合示例
13、器件失效特征規律和故障原因分析方法
1.電流應力與電壓應力的故障特征區別
2.突發浪涌應力與持續過電應力的故障特征區別

講師介紹
    武曄卿  電子工程碩士。曾任航天二院總體設計所主任設計師、高級項目經理，機電制造企業研發總監、事業部總監，北京市級優秀青年工程師，科協委員。
    有電子產品、軍工、通信等專業方向的設計、測評和技術管理經歷，對產品系統設計、可靠性設計、技術管理有較深入研究，曾在學術會議及多家技術刊物發表專業文章。曾為比亞迪、中電30所、29所、松下電工、北京華峰測控、北京航天長峰、普析通用儀器、航天二院、航天五院、深圳普博、伯特利閥門集團、北控高科、南車四方股份等企業提供專業技術和技術管理輔導、培訓和咨詢。曾作為核心團隊成員經歷一個企業由零到幾個億、研發團隊由幾個人到近二百人的發展過程，深諳企業發展過程的產品可靠性問題和解決方法。
主講課程：《電路系統可靠性設計》、《嵌入式軟件可靠性設計》、《電子系統測試》、《電子電器產品電磁兼容分析設計》等。

更多電子產品可靠性與白盒測試高級研修班相關課程：