【時間地點】 | 2012年8月05-06日 上海 | ||
【培訓講師】 | 程春金 | ||
【參加對象】 | 研發總監、系統工程師、研發經理、品質經理、測試經理、制造技術經理、新產品導入NPI經理及骨干工程師等 | ||
【參加費用】 | ¥3000元/人 (包括資料費、午餐及上下午茶點等) | ||
【會務組織】 | 森濤培訓網(www.gzlkec.com).廣州三策企業管理咨詢有限公司 | ||
【咨詢電話】 | 020-34071250;020-34071978(提前報名可享受更多優惠) | ||
【聯 系 人】 | 龐先生,鄧小姐;13378458028、18924110388(均可加微信) | ||
【在線 QQ 】 | 568499978 | 課綱下載 | |
【溫馨提示】 | 本課程可引進到企業內部培訓,歡迎來電預約! |
隨著 IT 行業電子產品的種類日漸增多競爭日趨激烈。所以如何把握好產品的質量就成為最為重要的部分。硬件測試是電子產品從研發走向生產的必經階段也是決定產品質量的重要環節如何將測試工作開展的更全面、更仔細、更專業完善也是眾多電子企業所追求的目標。本課程從測試的理論出發結合實際的產品測試經驗介紹了測試的目的、原理、流程和實際應用操作并將測試同研發、銷售和公司的市場推廣進行結合以更貼近企業的形式闡述了硬件測試在企業中的開展方法。
● 課程收益:
◇ 深刻理解可測性設計(DFT)的基本思想和基本原理
◇ 熟悉可測性設計(DFT)的基本業務流程
◇ 全面掌握可測性設計(DFT)的設計方法
◇ 有效構建可測性設計(DFT)的體系平臺和貨架技術
● 課程內容介紹:
一、可測性設計(DFT)概述
1、產品生命周期V模型 2、電子信息產品測試所面臨的問題 3、什么是可測性設計(DFT)
4、思考:如何深刻理解可測性設計(DFT) 5、可測性的物理特征表述 6、可測性的測度形式
討論:以下各功能模塊的可測性測度是怎樣的?
7、可測性設計(DFT)的效益分析 8、可測性設計(DFT)基本要素 9、IPD模式下的DFT體系結構
10、可測性設計(DFT)基本過程11、可測性設計(DFT)中常用術語及縮略語
二、可測性設計(DFT)需求
1、整機研發測試的可測性(DFT)需求來源 2、整機研發測試的可測性(DFT)需求
3、單板軟件研發測試的可測性(DFT)需求來源 4、單板軟件研發測試的可測性(DFT)需求
5、單板硬件研發測試的可測性(DFT)需求來源 6、單板硬件研發測試的可測性(DFT)需求
7、單板生產測試的可測性(DFT)需求來源 8、單板生產測試的抽象模型
思考:單板生產測試的目的是什么?
9、單板生產測試路線 10、單板生產工藝測試基本原理
11、單板生產功能測試基本原理 12、單板生產測試的可測性(DFT)需求
討論:本公司各產品適合的生產測試方案和路線是怎樣的?
13、JTAG在生產測試中的應用 14、JTAG在生產測試中的可測性設計(DFT)需求
15、單板維修可測性設計(DFT)需求
思考:本公司生產維修有哪些診斷手段?
三、可測性設計(DFT)基本方法
1、輸入輸出通道設計——測試控制物理通道
2、輸入輸出通道設計——外部測試命令集
3、輸入輸出通道設計——測試控制管理
4、輸入輸出通道設計——測試信息存儲與輸出
5、輸入輸出通道設計——外部儀器輸入輸出接口
6、內置數據源設計——業務數據源自動生成
7、內置數據源設計——差錯數據源自動生成
8、內置數據源設計——容限/極限數據源自動生成
9、內置數據源設計——故障數據源自動生成
10、能控性設計——測試數據源的設置與啟動
11、能觀性設計——系統配置狀態監控
12、能觀性設計——系統業務狀態監控
13、能觀性設計——單板運行狀態監控
14、能觀性設計——系統資源狀態監控
15、能觀性設計——系統其它狀態監控
16、BIST設計——通道分層環回
17、BIST設計——故障診斷
18、BIST設計——初始化自檢
案例解讀
四、單板可測性設計(DFT)必須考慮的要素
1、機械結構設計 2、自檢和自環設計 3、工裝夾具設計 4、測試點設計 5、芯片控制引腳設計 6、邊界掃描測試設計 7、EPLD/CPLD/FPGA設計 8、如何設計以減少測試點
五、可測性設計(DFT)工程實施
1、可測性設計(DFT)工程實施步驟
2、可測性設計(DFT)工程實施障礙
3、交流與探討:如何構建可測性設計(DFT)體系和貨架技術
● 講師介紹:程春金
資深講師研發工程技術產線總監 APECG 測試工程首席專家 中國電子協會 ATE 測試分會會員
工作經驗: 華為公司從事通訊產品可測試設計的研究及開發工作,曾參與大型程控交換機、光通信產品、會議電視系統項目的可測試及可制造性工程實施,歷任華為中央硬件研發平臺部開發經理,兆天網絡中試部經理等